Meccanismi di sicurezza hardware: ECC, core lockstep e Built-In Self-Test (BIST)
Per raggiungere ASIL-D, i semiconduttori per auto non possono affidarsi solo al software. I chip moderni integrano memorie ECC con SECDED, processori lockstep con sfasamento temporale e motori di autotest hardware LBIST e MBIST.
Sfasamento temporale nel lockstep a doppio core
Se due core sullo stesso silicio eseguono la stessa operazione nel medesimo istante, uno sbalzo di tensione potrebbe provocare il medesimo errore su entrambi, ingannando il comparatore. Nei chip ASIL-D, il core B è ritardato di 2 cicli di clock e ruotato di 90 gradi sul die.
- Protezione della memoria: ECC SECDED su cache L1/L2 e canali esterni LPDDR5.
- Sfasamento spazio-temporale: Core lockstep sfasati nel tempo per proteggere da picchi di tensione.
- Built-In Self-Test (BIST): LBIST verifica il 99% dei flip-flop in 15 ms all'accensione del quadro.
- Unità FCCU: Modulo hardware centralizzato che registra i guasti e pilota i pin di sicurezza.
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