Mécanismes de sécurité matériels : ECC, Core Lockstep et autotests intégrés (BIST)
Pour satisfaire ASIL-D, les calculateurs ne peuvent reposer uniquement sur le logiciel. Les puces automobiles intègrent l'ECC avec SECDED, le double cœur lockstep à déphasage temporel et des moteurs d'autotests matériels LBIST/MBIST.
Déphasage temporel en double cœur lockstep
Si deux cœurs sur le même silicium exécutent la même instruction au même front d'horloge, un pic de tension peut induire la même erreur sur les deux, leurrant le comparateur. Sur les puces ASIL-D, le cœur B est décalé de 2 cycles d'horloge et pivoté à 90° sur la puce.
- Protection mémoire : ECC SECDED sur tous les caches L1/L2 et bus externes LPDDR5.
- Déphasage spatial et temporel : Cœurs lockstep décalés de quelques cycles pour parer aux chutes de tension.
- Autotests intégrés (BIST) : LBIST vérifiant 99 % des bascules en moins de 15 ms dès la mise du contact.
- Unité FCCU : Registre matériel centralisé interceptant les défauts et pilotant les broches d'état sûr.
Explorer le portefeuille de domaines