Hardware-Sicherheitsmechanismen: ECC, Core-Lockstep und Built-In Self-Test (BIST)
Fuer ASIL-D darf sich die Fehlererkennung nicht auf Software beschraenken: Moderne Automotive-SoCs nutzen Hardware-ECC mit SECDED, Dual-Core-Lockstep mit Taktversatz sowie integrierte Logik- und Speicher-Selbsttest-Engines (LBIST/MBIST).
Taktversatz bei Dual-Core-Lockstep
Laufen zwei Kerne auf demselben Die vollkommen synchron, koennte ein Spannungsimpuls in beiden Kernen denselben Fehler ausloesen und den Komparator taeuschen. Bei modernen ASIL-D-Chips laeuft Kern B mit 2 Takten Verzoegerung und liegt physisch um 90 Grad gedreht auf dem Silizium.
- Speicherschutz: SECDED-ECC auf allen L1/L2-Caches und externen LPDDR5-Kanaelen.
- Raeumlich-zeitlicher Versatz: Taktversetzte Lockstep-Kerne schuetzen vor Gleichtaktfehlern durch Spannungsspitzen.
- Built-In Self-Test (BIST): Logic-BIST prueft 99 % aller Flip-Flops innerhalb von 15 ms beim Fahrzeugstart.
- Fault Collection and Control Unit (FCCU): Zentraler Hardware-Block schaltet Pins in den sicheren Zustand.
Domain-Portfolio entdecken